Park为FA和研究实验室提供精确的形貌测量解决方案低噪声Z探测器可精确测量AFM表面形貌用真正的非接触扫描方式节省成本。
ParkNX20凝聚着具创新的AFM技术
1.100μmx100μm扫描范围的XY平板扫描器
2.高速Z轴扫描器，扫描范围达15μm
3.低噪声XYZ位置传感器
4.集尘编码器的XY自动样品载台
5..自动多点样品扫描
6.操作方便的样品台
7.用于拓展扫描模式易插拔扩展槽
8.同轴高功率光学集成LED照明和CCD系统
9.扫描头滑动嵌入式设计
10..自动Z轴移动和聚焦系统
在半导体产业发展如火如荼的今天，上海磊微伴随着行业不断学习、积极提升自身水平，为越来越多的客户提供了专业的产品和服务。今后，磊微将以不断培育的市场为依托，以先进优质产品为核心，以高效运作的团队为基础，迎来更快更好的发展。我们一直秉承团结创新、严谨奋进的企业精神，秉承诚信务实、互利多赢的经营理念，努力为客户、为社会提供高品质产品和服务
https://www.chem17.com/st543966/erlist_2393623.html
http://www.shleiwei.com/Products-37268921.html