LA-S植物根系图像分析系统
用途:LA-S植物根系图像分析系统用于对洗净的植物根系进行多参数快速分析。采用全球统一标准,可精确、快速对根系进行分析处理,广泛应用于农业、林业、气象等部门。
|
|
技术规格:
硬件规格 |
|
光学分辨率 |
4800×9600 dpi |
最大分辨率 |
65535×65535 dpi |
拍摄箱 |
封闭/半封闭式扫描、无直射强光干扰 |
最大分析测量面积 |
最大分析面积356 mm × 216 mm,如果配合根盘使用分析面积为300 mm × 200 mm |
分辨的最小尺寸 |
0.008 ×0.008 mm |
图像分析测量精度 |
X向≤±0.5 %,Y向≤±0.25% |
长度测量重现性误差 |
<±0.25% |
面积测量重现性误差 |
<±0.25% |
台间测量差异 |
<±0.25% |
测量总时间 |
30~60秒 |
软件功能 |
|
分析测量 |
根总长;根平均直径;根总面积;根总体积;根尖计数;分叉计数;交叠计数;根直径等级分布参数;可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积及其分布参数;根尖段长分布;能进行根系的颜色分析,确定出根系存活数量,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积;能进行根系的拓扑分析,自动确定根的连接数、关系角等,可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等;可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(分档数、档直径范围任意可改;能进行根的分叉裁剪修正,修正操作能回退,以快速获得100%正确的结果。精度:根长≤±1%;面积:优质图像质量时<1%,标准图像质量时≤3%;匹配专门的双光源照明系统,提供高分辨率的彩色或黑白图像,去除了阴影和不均匀现象的影响,有效保证图像质量;采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等,可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。 |
人工辅助修正 |
图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正 |
统计效果监视 |
监视和修正植物对象分析的精度 |
自动杂质剔除 |
根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除 |
辅助测量功能 |
尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量; |
数据报表导出 |
分析结果能导出到Excel表,以便存档和统计。还可输出分析标记图,以便发表论文用 |
产地:中国